L'impact de la modélisation des circuits et des particules à faible énergie sur la prédiction du taux d'événements singuliers.

The Impact of circuit modeling and low energy particles on Single-Event effect rate prediction.

• Auteur / Autrice : Cleiton Magano marques
• Direction : Frédéric Wrobel
• Type : Projet de thèse
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Inscription en doctorat le 16/01/2022
• Etablissement(s) : Université de Montpellier (2022-....)
• Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Information, Structures, Systèmes (Montpellier ; 2015-....)
• Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : IES - Institut d'Electronique et des Systèmes
• Partenaire(s) de recherche : Equipe de recherche : RADIAtions et Composants (RADIAC)

Mots clés

Mots clés libres

Simulations

Evenement singulier

Radiations

Simulations

Radiations

Single event effects

Résumé

Dans cette thèse, nous développerons et appliquerons des outils et des approches de simulation pour modéliser les effets des rayonnements sur l'électronique tels que les SEU/SET. Le travail aborde 4 points principaux : (1) Impact de la disposition du circuit et du vecteur d'entrée sur la sensibilité SET des circuits combinatoires pour concevoir des circuits plus fiables ; (2) Impact des particules de faible énergie telles que les protons et les neutrons dans la gamme d'énergie de 1 à 10 MeV ; (3) Modélisation au niveau du circuit : nous étudierons des modèles alternatifs simples qui peuvent être utilisés pour accélérer le processus d'évaluation de la fiabilité des circuits électroniques complexes et évaluer leur précision ; (4) Partie expérimentale : une puce de test sera conçue et irradiée pour valider les résultats de simulation et les modèles de circuits et d'effets de rayonnement proposés.

We will develop and apply simulation tools and approaches for modeling radiation effects on electronics such as SEU/SET. There are 4 main points: (1) Impact of circuit layout and input vector on SET sensitivity of combinational circuits to design more reliable circuits; (2) Impact of low-energy particles such as protons and neutrons in the 1-10 MeV energy range; (3) Circuit-level modeling: We'll investigate alternative simplistic models that can be used to accelerate the reliability assessment process of complex electronic circuits and evaluate their accuracy; (4) Experimental part: a test chip will be designed and irradiated to validate the simulation results and the proposed circuit and radiation effects models.