Approche statistique pour le pronostic de défaillance : application à l'industrie du semi-conducteur
Auteur / Autrice : | Thi Bich Lien Nguyen |
Direction : | Mustapha Ouladsine, Mohand Arab Djeziri, Bouchra Ananou |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Mathématiques et informatique |
Date : | Soutenance le 04/03/2016 |
Etablissement(s) : | Aix-Marseille |
Ecole(s) doctorale(s) : | Ecole doctorale Mathématiques et Informatique de Marseille (Marseille ; 1994-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire des sciences de l'information et des systèmes (Marseille) |
Jury : | Président / Présidente : Geneviève Dauphin-Tanguy |
Examinateurs / Examinatrices : Vincent Cocquempot | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Christophe Bérenguer, Antoine Grall |
Mots clés
Résumé
Ce travail de thèse concerne le développement d'une méthode de pronostic de défaillance des systèmes de production en série. Une méthode de génération d'un indice de santé brut à partir d'un tenseur de données, appelée Méthode des Points Significatifs a été développée puis validée sur un exemple d'illustration. L'indice généré est ensuite traité par une nouvelle méthode appelée méthode des percentiles, qui permet de générer des profils monotones à partir d'un indice de santé brut. Les profils générés sont ensuite modélisés par un processus Gamma, et la fonction de densité de probabilité agrégée introduite dans ce travail a permis d'estimer le temps de vie résiduel (Remaining Useful Life (RUL)) dans un intervalle de confiance qui assure une marge de sécurité à l'utilisateur industriel. La méthode proposée est appliquée avec succès sur des données expérimentales issues des équipements de production industrielle.