Auteur / Autrice : | Temga Temga |
Direction : | Daniel Treheux |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Génie des matériaux |
Date : | Soutenance en 2004 |
Etablissement(s) : | Ecully, Ecole centrale de Lyon |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire Ingénierie et fonctionnalisation des surfaces (Ecully, Rhône) |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
La caractérisation du piégeage des charges est faite par la physique des isolants chargés qui englobe plusieurs domaines tant du point de vue fondamental qu'appliqué. Elle décrit les mécanismes de conduction et de piégeage des charges électriques dans les isolants mais aborde aussi les conditions de stabilité et de relaxation de celles-ci. Nous nous sommes intéressés aux mécanismes de piégeage des charges dans un semi-conducteur à grand gap (ou isolant à faible gap) : le dioxyde de titane, rutile. La caractérisation de ces mécanismes est faite par la méthode SEMME (Scanning Electron Microscopy Mirror Effect). Les travaux réalisés ont permis de mettre en évidence une diffusion importante des charges et plus particulièrement une conduction en surface. La forte valeur de la constante diéliectrique entraîne d'un côté un effet d'écran et de l'autre une anisotropie de la distribution des charges piégées (miroirs elliptique ou circulaire). Dans ce but, un modèle analytique est proposé.