Analyse statistique des circuits intégrés : caractérisation des modèles

Statistical analysis of integrated circuits: models characterization

• Auteur / Autrice : Dominique Villedieu- Romefort
• Direction : Claude Vidallon
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1990
• Etablissement(s) : Toulouse 3

Mots clés

Mots clés contrôlés

Procédés de fabrication

Circuits intégrés

Résumé

Le travail presente porte sur l'analyse statistique des circuits integres (c. I. ) et plus particulierement sur la caracterisation des modeles statistiques, ceux-ci n'etant pas disponibles pour les composants des c. I. La caracterisation d'un modele statistique peut etre realisee a partir de la connaissance des parametres physiques directement issus du processus de fabrication, mais cette approche est limitee aux fabricants qui seuls disposent des informations necessaires. Une autre voie consiste a utiliser la mesure des performances sur un lot de composants: la methode proposee ici consiste alors a ajuster le modele sur chaque composant individuel; on obtient ainsi une base de parametres du modele, a partir de laquelle on determine la valeur moyenne et l'ecart-type de chaque parametre variable. Cette methode est principalement basee sur une optimisation parametrique, dont la solution peut dependre etroitement des algorithmes, des calculateurs et des valeurs de depart ainsi que de la qualite de la base de mesures et de l'adequation du modele. Les experimentations realisees ont montre la difficulte a obtenir un modele statistique fiable, liee aux differents points critiques cites ci-dessus, l'une des contraintes fondamentales etant de garantir l'univocite entre les mesures et les parametres du modele. Un protocole de caracterisation complet et original a ete elabore; il garantit la validite d'un modele representatif si toutes les etapes en sont franchies avec succes, et permet de tirer des conclusions objectives en cas d'insuffisance sur un des points critiques