Acquisition automatique des modèles quasi-statiques et dynamiques de structures semiconductrices élémentaires par des techniques d'analyses fréquentielles : application aux photodiodes et aux transistors

Automatic acquisition of quasi-static and dynamic models of semiconductor structures by means of frequency analysis : application to photodiodes and transistors

• Auteur / Autrice : Mohammed Wahbi
• Direction : Jacques Boucher
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1986
• Etablissement(s) : Toulouse, INPT

Mots clés

Mots clés contrôlés

Transistors à effet de champ

Photodiodes

Cartographie

Acquisition automatique des données

Résumé

La democratisation des moyens en micro-informatique permet d'envisager de nouvelles methodes de caracterisation, integrant les modeles mathematiques, les dispositifs d'acquisition des mesures et les moyens correspondants de stockage et de traitement numerique, autorisant ainsi une confrontation directe entre la theorie et l'experience. Dans ce memoire, nous presentons un ensemble de methodes, de logiciels, de dispositifs de mesures et, dans un but demonstratif, un certain nombre de resultats experimentaux, degageant ainsi une nouvelle philosophie et un certain nombre d'exemples concrets de caracterisation sur differents composants. La methodologie de caracterisation que nous avons introduite et developpee est basee sur des modeles theoriques et des methodes experimentales adaptees. Le fait d'utiliser un microcalculateur autorise tout d'abord un grand nombre de mesures permettant d'eprouver la fidelite et par la d'ameliorer la precision, un traitement systematique des mesures et une confrontation directe avec le modele theorique, de meme qu'un presentation agreable des resultats