Auteur / Autrice : | Brigitte Sieber |
Direction : | Jean Philibert |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Sciences physiques |
Date : | Soutenance en 1985 |
Etablissement(s) : | Paris 11 |
Partenaire(s) de recherche : | autre partenaire : Université de Paris-Sud. Faculté des sciences d'Orsay (Essonne) |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Mots clés libres
Résumé
Ce travail présente une étude quantitative du contraste en mode induit, dans un microscope électronique à balayage, de dislocations fraîches (introduites par microdureté Vixkers) et de défauts de croissance dans CdTe non dopé intentionnellement (n ≈ 10¹⁵ - 10¹⁶/cm³). Le contraste c% est recueilli expérimentalement pour différentes valeurs de la tension d’accélération des électrons E₀. Les expériences montrent que les processus de recombinaison associés aux dislocations sont efficaces dans la zone de charge d’espace d’une barrière de Schotkky et dans la zone de diffusion ; les courbes expérimentales c% = f (E₀) sont alors ajustées pour une analyse théorique tenant compte des contributions de ces deux zones. La comparaison des courbes expérimentales et théoriques permet d’assimiler le rayon du cylindre – par lequel est schématisée la dislocation – à la longueur d’écran du matériau. La simulation théorique du contraste de précipités, couplée à celle de dislocations perpendiculaires à la surface permet d’établir des tests de caractérisation de CdTe.