Franck Bassani
IdRefMots clés
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Microélectronique
III-V hétérostructures
SIMS
FinFET
Optoélectronique
Puits quantique
Spectrométrie de masse des ions secondaires
Puits quantiques
Épitaxie par faisceaux moléculaires
Nanostructures
Propriétés optiques
Fiabilité
Microscopie à force atomique en mode conduction
TDDB
Métaloxyde semi conducteur
Oxyde bicouche
Filament
Résistance différentielle négative
Caractérisation électrique
Nanoélectronique