Chhandak Mukherjee
IdRefMots clés
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Cmos
Hot Carrier Injection (HCI)
Bias Temperature Instability (BTI),
Simulation de circuit incluant la fiabilité
MOS complémentaires
Circuits intégrés
Matériaux -- Détérioration
Porteurs chauds
Contraintes thermiques
Communication optique
Communication sans fil
Ondes millimétriques (mm-Waves),
Térahertz (THz)
Circuits optoélectronique intégré (COEIs)
Photodiodes à transport unipolaire (UTC-PDs)
Modélisation compacte
Conception de circuit et caractérisation RF sur plaquette
Mesures de paramètres S
Ondes millimétriques
Rayonnement terahertz