Thomas Carlier
IdRefMots clés
FR
A2WO6 (A = Ln)
Film mince
Ablation laser pulsé
Diffraction de rayons X haute résolution
Microscopie électronique en transmission (TEM)
Microscopie à force atomique (AFM)
Microscopie à force piézoélectrique (PFM)
Microscopie électronique en transmission couplé à un microscope à effet tunnel in situ (TEM - STM in situ)
Piézoélectricité
Ferroélectricité
Oxyde
Nanostructure
Faisceau d'ions focalises (FIB)
Masque
Approche "bottom-up"
Couches minces piézoélectriques
Nanotechnologie
Microscopie à force atomique
Ablation laser (fabrication)