Thèse soutenue

Développement et caractérisation de contacts passivés avec recuit rapide à haute température pour la fabrication de cellules solaires en silicium de type p.

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Auteur / Autrice : Anatole Desthieux
Direction : Pere Roca i Cabarrocas
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Physique
Date : Soutenance le 15/11/2021
Etablissement(s) : Institut polytechnique de Paris
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale de l'Institut polytechnique de Paris
Partenaire(s) de recherche : établissement opérateur d'inscription : École polytechnique (Palaiseau, Essonne ; 1795-....)
Laboratoire : Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces (Palaiseau, Essonne)
Jury : Président / Présidente : Olivier Palais
Examinateurs / Examinatrices : Pere Roca i Cabarrocas, Lars Korte, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Erwin Kessels, Delfina Muñoz, Damien Aureau, Jorge Ivan Posada Parra
Rapporteurs / Rapporteuses : Lars Korte, Marie-Estelle Gueunier-Farret

Résumé

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Étant appelée à jouer un rôle déterminant dans la transition énergétique, l'industrie photovoltaïque est mise au défi de réduire l'impact environnemental de la fabrication de panneaux solaires. Selon toute probabilité, les cellules solaires en silicium à contacts passivés (TOPCon) domineront le marché dans les prochaines années grâce à leurs excellentes performances électriques. Cependant, leur intégration est énergivore, d'où l'étude de nouveaux procédés de fabrication comme les contacts passivés avec recuit rapide (FPC).Ce manuscrit présente l'optimisation des conditions de dépôts des différentes couches utilisées dans une cellule FPC, ainsi que des caractérisations poussées de ces couches. Des analyses de spectroscopie photoélectronique X ont permis de montrer que le dépôt d'une couche de (p) µc-Si:H par dépôt chimique en phase vapeur assisté par plasma (PECVD) modifie la composition chimique de l'oxyde tunnel enterré dans l'empilement passivant.Des améliorations ont été apportées à un dispositif d'acquisition de Photoluminescence Modulée embarqué sur un réacteur de dépôt PECVD. Cette technique permet de mesurer en temps réel l'évolution de la durée de vie des porteurs de charge dans un échantillon durant une étape de fabrication. Cela a permis de montrer que l'action combinée de la température et de la lumière engendre l'activation de charges fixes positives stables dans des couches d'AlOx, ce qui est très inhabituel.Les mesures de passivation en temps réel d'échantillons FPC pendant une étape d'hydrogénation ont mis en évidence l'importance majeure de la température et de la durée du recuit pour atteindre les niveaux de passivation attendus. Cette technique a également été utilisée pendant le dépôt de couches de SiNx:H. Elle a permis d'observer (i) les fortes dégradations liées aux plasmas directs de H2 et NH3 sur des couches de (p) µc-SiOx et (ii) que pendant le dépôt de SiNx:H, la majorité de l'amélioration de la passivation a lieu pendant les premières minutes de dépôt.L'intégration de contacts FPC a été réalisé sur de grands wafers industriels de type mono-cast, donnant des résultats prometteurs sur surfaces polies.