Thèse soutenue

Miroirs interférentiels efficaces dans l’extrême ultraviolet pour la physique solaire
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Auteur / Autrice : Jennifer Rebellato
Direction : Franck Delmotte
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Physique
Date : Soutenance le 08/12/2020
Etablissement(s) : université Paris-Saclay
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Ondes et Matière
Partenaire(s) de recherche : référent : Institut d'optique Graduate school (Palaiseau, Essonne ; 1920-....)
Laboratoire : Laboratoire Charles Fabry / Optique XUV
Jury : Président / Présidente : Pascal Aubert
Examinateurs / Examinatrices : Franck Delmotte, Marie-Anne Descalle, Julien Lumeau, Regina Soufli, Frédéric Auchère
Rapporteurs / Rapporteuses : Marie-Anne Descalle, Julien Lumeau

Résumé

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Par son activité intense et ses hautes températures, l’atmosphère solaire émet des rayonnements X et ultraviolets extrêmes (EUV) porteurs d’informations sur sa structure. Les télescopes spatiaux observant le Soleil dans ce domaine spectral atteignent des performances accrues grâce aux miroirs interférentiels multicouches. Cette thèse contribue à améliorer l’efficacité de ces revêtements optiques. On y évalue les constantes optiques des matériaux dans l’EUV pour les sélectionner plus précisément et affiner les simulations, ce qui nous permet d’établir des modélisations plus précises pour l’étalonnage du télescope EUV plein champ de Solar Orbiter. On propose aussi de nouveaux revêtements à base d’aluminium et de scandium ayant atteint des réflectivités record au-delà de 40 nm de longueur d’onde. S’agissant d’une région spectrale EUV encore peu explorée, les résultats de ces travaux ouvrent la voie à une nouvelle génération d’instruments d’observation solaire. Leurs conséquences sont aussi remarquables pour une communauté scientifique plus étendue ayant besoin d’instrumentation optique adaptée dans le domaine X/EUV pour les synchrotrons, la lithographie EUV, les diagnostics X, ou encore la microscopie X.