Capteurs embarqués non-intrusifs pour le test des circuits RF

Non-intrusif built-in sensors for RF circuit testing

• Auteur / Autrice : Louay Abdallah
• Direction : Salvador Mir
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences et technologie industrielles
• Date : Soutenance le 22/10/2012
• Etablissement(s) : Grenoble
• Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
• Partenaire(s) de recherche : Equipe de recherche : Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture d'ordinateurs
• Jury : Président / Présidente : Philippe Ferrari
• Jury : Examinateurs / Examinatrices : Josep Altet, Christophe Kelma, Cedric Mayor, Haralampos-g. Stratigopoulos
• Jury : Rapporteurs / Rapporteuses : Yann Deval, Bernard Jarry

Mots clés

Mots clés contrôlés

Nanoélectronique

Mots clés libres

RF

Test

Test intégré

BIST

Apprentissage automatique

BIST : Built in self test

Machine learning

DFT : Design for test

Résumé

Cette thèse vise l’étude de techniques de type BIST pour un front-end RF, considérant des nouveaux types des capteurs intégrés très simples pour l’extraction de signaux. Ces signaux et les stimuli de test associés seront par la suite traités par des algorithmes de l’apprentissage automatique qui devront permettre une prédiction des performances des différents blocs du système. Une évaluation des capteur proposés en tant que métriques de test paramétrique et couverture des fautes catastrophique sera nécessaire pour pouvoir aboutir à des techniques de test à bas coût pour le test de production, permettant une réduction importante du coût de revient des produits.

This thesis aims to study techniques such BIST for RF front-end, whereas new types of simple integrated sensors for signal extraction. These signals and stimuli associated test will then be processed by machine learning algorithms that will allow prediction of the performance of different blocks of the system. An evaluation of the proposed sensor as parametric test metrics and coverage of catastrophic faults will be needed to reach test techniques for low-cost production test, allowing a significant reduction in the cost of products