Détermination a posteriori des indices et épaisseurs de couches minces par méthode spectrométrique

par Lihong Gao

Thèse de doctorat en Nanonscience

Sous la direction de Michel Lequime.

Soutenue en 2012

à l'Ecole centrale de Marseille .

mots clés

• Reverse engineering
• Propriétés optiques des couches minces
• Problème d'optimisation
• Détermination de l'indice de réfraction
• Couches minces -- Thèses et écrits académiques
• Spectrophotométrie -- Thèses et écrits académiques
• Réfractométrie -- Thèses et écrits académiques

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Titre traduit

Index and thickness reverse engineering of thin films using spectrophotometric analysis

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