TY  - THES
DP  - http://www.theses.fr/2011GRENT126
TI  - Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors MOS en Radio Fréquence
AU  - Negre, Laurent
A3  - Ghibaudo, Gérard
PY  - 2011
N1  - Thèse de doctorat Sciences et technologie industrielles Grenoble 2011
N1  - 2011GRENT126
UR  - http://www.theses.fr/2011GRENT126/document
ER  -