Thèse soutenue

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Auteur / Autrice : Mario Manuel Silveira Rodrigues
Direction : Joël ChevrierFabio Comin
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Physique
Date : Soutenance en 2009
Etablissement(s) : Grenoble 1

Mots clés

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Mots clés contrôlés

Résumé

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EN

CETTE THESE AVAIT COMME OBJECTIF PRINCIPAL LA COMBINAISON EN TEMPS REEL ET lN-SITU DE DEUX TYPES DE SPECTROSCOPIES DIFFERENT: LA MICROSCOPIE EN CHAMP PROCHE ET LA SPECTROSCOPIE AVEC LA LUMIERE DE SYNCHROTRON. DONC CETTE THESE ATTENDAIS A INTRODUIRE DES NOUVEAUX TECHNIQUES EXPERIMENTAL QU PERMETTAIT DE EXPLORER LES PROPRIETES DES MATERIAUX A LA NANO ECHELLE. LES NOUVELLES INSTRUMENTS ETAIENT SENSE DE PERMETTRE D'OBTENIR A LA FOIS UNE IMAG TOPOGRAPHIQUE ET UN CONTRASTE CHIMIQUE OU LA RESOLUTION LATERAL SERAIT DE 10-40 NM. UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE (AFM) A ETAIT CONSTRUIT. CE MICROSCOPE A ETE DEVELOPPE AU TOUR D'UN DIAPASON A CRISTAL DE QUARTZ QUI ETAI LE SENSEUR DE FORCE AVEC LEQUEL DES FORCE A L'ECHELLE MANOM ETRIQUE ON ETAIT MESURES. LE MICROSCOPE DEVELOPPE ICI A ETAIT UTILISAIT DANS DES DIFFERENTES LIGNES DE LUMIERES AU SYNCHROTRON (ESRF) AVEC DEUX OBJECTIFS ESSENTIELLEMENT DIFFERENTES. UN PREMIER OBJECTIF C'ETAIT DE FAIRE DE LA SPECTROSCOPIE, COMME LA MESURE D'UN SEUl D'ABSORPTION, LOCALEMENT AVEC LA POINTE DE L'AFM. LA RESOLUTION LATERAL OBTENU N'ETAIT PAS DONNE PAR LA GEOMETRIE DE LA POINTES MAIS PAR LA TAILLE DU FAISCEAU X. LA POINTE DE L'AFM A EGALEMENT ETAIT UTILISE POUR MESURE DES COURBES DE BRAGG QUAND DES CRISTAUX DES TAILLES INFERIEUR AU MICROMETRE ONT ETAIT ILLUMINE. UN DEUXIEME OBJECTIF ETAIT DE UTILISER LA POINTE DE L'AFM POUR INTERAGIR MECANIQUEMENT AVEC DES SYSTEMES A L'ECHELLE MANOM ETRIQUES ET SIMULTANEMENT UTILISER LE FAISCEAUX X POUR MESURER DES CHANGEMENTS DU PARAMETRE DE MAILLES. AINSI, LA POINTE DE L'AFM AS ETAIT UTILISES POUR DEFORMER ELASTIQUEMENT UN CRISTAL DE SIGE PENDANT QUE LE SIGNAL DE DIFFRACTION ETAIT MESURE. ÇA A PERMIT D'OBSERVER DES DECALAGES DE LA COURBE DE BRAGG EN CONSEQUENCE DE LA PRESSION APPLIQUE PAR LA POINTE. LA COMBINAISON lN-SITU DE MICROSCOPIE ATOMIQUE AVEC LA DIFFRACTION A, CETTE FOIS ICI, PERMIT D'OBTENIR LE MODULE D'YOUNG D'UN CRISTAL A ECHELLE MANOM ETRIQUE SANS AUCU PARAMETRE AJUSTABLE.