Susceptibilité des micro-contrôleurs aux agressions électromagnétiques
Auteur / Autrice : | Stéphane Baffreau |
Direction : | Étienne Sicard |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Conception de circuits microélectroniques et microsystèmes |
Date : | Soutenance en 2003 |
Etablissement(s) : | Toulouse, INSA |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire d'étude des systèmes informatiques et automatiques (Toulouse) |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Mots clés libres
Résumé
La prise en considération des contraintes de la compatibilité électromagnétique (CEM), initialement au niveau des équipements électroniques, se répercute aujourd'hui sur les circuits intégrés : l'objectif de cette étude est de contribuer à la réduction de la susceptibilité des micro-contrôleurs aux perturbations électromagnétiques en utilisant des méthodes de protections logicielles. Nous nous sommes intéressés aux origines de ces perturbations, à leur façon de se coupler au système et à leur propagation jusqu'au niveau du circuit intégré. Nous présentons également les différentes méthodes de mesures permettant de reproduire de tels champs électromagnétiques en laboratoire. La conception, la mise en œuvre et la validation d'un banc de test de susceptibilité reposant sur la méthode de mesure Direct Power Injection (IEC 62132-3) est également détaillée. Une carte de test a été conçue et développée autour d'un micro-contrôleur 16 bit afin de proposer un premier modèle de susceptibilité des composants. De plus, ce moyen de test nous a également permis d'évaluer l'efficacité de protections logicielles aussi bien pour des blocs analogiques que digitaux du micro-contrôleur.