Uniquement les thèses soutenues
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Etudes expérimentales et théoriques des mécanismes de dégradation électrique dans les composants bipolaires et à effet de champ à base de silicium germanium
par Jessica Kuchenbecker
Thèse de doctorat en Micro-électronique
Sous la direction de Robert Plana et de Mattia Borgarino.
Soutenue en 2002
à Toulouse 3 .
- Transistors bipolaires à hétérojonction
- Transistors à effet de champs
- Vieillissement accéléré
- Mécanismes de dégradation
- Simulations physiques
- Transistors à effet de champ
- Durée de vie (ingénierie)
- Matériaux -- Détérioration
mots clés
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Titre traduit
Experimental and theoretical investigation of electrical degradation mechanisms in bipolar and field effect devices based on silicon germanium materials
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