Caractérisation des modes de défaillance des capteurs d'images CMOS à pixels actifs en environnement spatial
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Auteur / Autrice : | Muriel Cohen |
Direction : | Jean-Pierre David |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Microélectronique |
Date : | Soutenance en 2000 |
Etablissement(s) : | École nationale supérieure de l'aéronautique et de l'espace (Toulouse ; 1972-2007) |
Mots clés
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