Thèse soutenue

Caractérisation des modes de défaillance des capteurs d'images CMOS à pixels actifs en environnement spatial
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Auteur / Autrice : Muriel Cohen
Direction : Jean-Pierre David
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Microélectronique
Date : Soutenance en 2000
Etablissement(s) : École nationale supérieure de l'aéronautique et de l'espace (Toulouse ; 1972-2007)