Thèse soutenue

Étude de la senbilité à la température de structures laser alumino-phosphorées à multi-puits quantiques sur substrat InP
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Auteur / Autrice : Cathy Sion
Direction : Didier Decoster
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Électronique
Date : Soutenance en 1999
Etablissement(s) : Lille 1

Mots clés

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Résumé

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Si l'on envisage le développement des télécommunications optiques jusque chez l'abonné ou le groupe d'abonnés, le nombre de modules de transmission va augmenter considérablement. Afin d'en diminuer le coût, l'utilisation de modules laser ne nécessitant pas de régulation en température est un des facteurs principaux. Dans cette idée, nous avons étudié l'influence de l'introduction progressive d'aluminium dans la zone active de lasers en filière InP sur le comportement en température. L'objectif recherche est de combiner les propriétés radiatives des matériaux phosphorés et de la grande discontinuité de bande de conduction des matériaux aluminés. Une analyse des tendances du comportement de ces structures ont montré qu'une diminution de la sensibilité à la température (forte température caractéristique T0) dans les structures comportant la plus grande proportion de matériaux aluminés va de pair avec une augmentation du courant de seuil. Cette augmentation du courant de seuil a été interprétée en terme d'existence de centres non radiatifs dus aux matériaux aluminés masquant l'effet, a priori intéressant pour une faible sensibilité à la température, de la grande discontinuité de bande de conduction. Au cours de ce travail, une méthodologie pour la croissance des épitaxies lasers à multi-puits contraints, fondée uniquement sur des mesures de photoluminescence et d'oscillations RHEED, a été développée. Une méthode originale de caractérisation par photoconductivité en illumination par la tranche a permis de déterminer la nature de la contrainte des puits des structures lasers et de remonter, en s'appuyant sur un modèle simplifié de calcul de structure de bande, à la valeur de cette contrainte. Un banc de caractérisation a également été conçu et automatisé pour relever, en fonction de la température, les traces de puissance optique en fonction du courant injecté dans les lasers.