Contribution à l'étude du dépôt d'aérosols fins sur les surfaces du matériel électronique à l'intérieur du bâtiment
Auteur / Autrice : | Andres Litvak |
Direction : | Patrick Depecker |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Génie civil |
Date : | Soutenance en 1998 |
Etablissement(s) : | Lyon, INSA |
Ecole(s) doctorale(s) : | Ecole doctorale Mécanique, Energétique, Génie Civil, Acoustique (Villeurbanne2011-....) |
Partenaire(s) de recherche : | autre partenaire : Ecole nationale des travaux publics de l'Etat (Vaulx-en-Velin, Rhône ; 1975-....) |
Jury : | Examinateurs / Examinatrices : Patrick Depecker |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
Ce travail présente une étude expérimentale sur les mécanismes du dépôt d'aérosols fins, et de la contamination concomitante, du matériel électronique résidant à 1' intérieur de bâtiments équipés de systèmes classiques de ventilation et de filtration de l'air. Dans une première partie, une étude bibliographique présente l'état actuel de nos connaissances sur la modélisation du dépôt des aérosols fins sur les surfaces intérieures, et, en particulier, introduit le concept de vitesse de dépôt. Des études numériques mettent en évidence différents paramètres gouvernant la vitesse de dépôt, notamment, les écoulements aérauliques et les champs électrostatiques, pour le cas du matériel électronique. On présente dans la seconde partie, la préparation et les résultats d'une étude expérimentale en laboratoire sur deux types différents de matériels électroniques. L'objectif de cette étude expérimentale est d'améliorer nos connaissances relativement aux mécanismes physiques de dépôts particulaires sur les matériels électroniques et d'évaluer la fiabilité des composants contaminés. Pour cela, nous avons exposé le matériel électronique testé au dépôt accéléré d'aérosols hygroscopiques du mode fin, très concentrés dans une chambre environnementale. L'exposition des circuits correspond à une exposition d'environ une quinzaine d'années à des aérosols de concentration normale. Après l'exposition, la morphologie du dépôt a été observée visuellement. La vitesse de dépôt a été mesurée sur différentes surfaces du matériel exposé, par une analyse fluorimétrique. La fiabilité des composants électroniques contaminés a été évaluée en fonction de l'humidité relative. Nous mettons en évidence des mécanismes physiques de dépôt et de contamination, sur certains sites exposés et, en particulier, le rôle joué par les champs électrostatiques intenses sur l'accélération de l'accumulation particulaire. Ces résultats révèlent la nécessité d'utiliser des systèmes appropriés de ventilation et de filtration de 1' air intérieur, afin de réduire les défaillances du matériel électronique.