Analyse par diffraction X en trois dimensions des déformations/contraintes dans des matériaux cristallins à réseaux très déformés

par Komlan Assogba Kassegne

Thèse de doctorat en Sciences et génie des matériaux

Sous la direction de Antoine Pianelli.


  • Résumé

    Cette étude porte sur l'analyse en trois dimensions par diffraction X des contraintes résiduelles dans des matériaux cristallins à réseaux très déformés. Pour un diffractomètre prototype équipé d'un détecteur à localisation linéaire (DLL) et d'un goniomètre à 4 cercles avec un berceau d'Euler ouvert et décentré et une table de translation XY, nous avons rédigé et adapté des outils logiciels d'acquisition des mesures et de détermination du tenseur triaxial des contraintes. Des stratégies spéciales d'orientation des échantillons pendant leur exposition ont été mises au point pour analyser convenablement les déformations dans les matériaux à réseaux fortement perturbés. Compte tenu de la largeur des profils d'intensités mesurées qui déborde de la fenêtre de mesure du DLL, nous avons localisé les raies en mettant au point deux méthodes numériques (corrélation croisée modifiée et arc glissant) ou en utilisant la méthode du barycentre centré de F. CONVERT. En ne faisant pas l'hypothèse sigma(3,3)=0 dans le tenseur des contraintes, nous avons fait des mesures suivant au moins 6 directions spatiales phi que nous avons optimisées. Dans les matériaux que nous avons essayés, nous avons vérifié, par le calcul du tenseur des contraintes, que l'hypothèse sigma (3,3) voisin de zéro était licite. Les valeurs de sigma(3,3) sont faibles et généralement inferieures à l'incertitude de mesure. Avec les méthodes que nous avons mises au point, une analyse de contraintes peut être conduite avec un minimum d'incertitude en moins de 10 minutes pour une direction phi et en mois de 60 minutes pour un tenseur triaxial

  • Titre traduit

    Three dimensions strain/stresses analysis by X-ray diffraction in the deformed lattices materials


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  • Annexes : 43 réf.

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