Localisation faible et intéractions électroniques dans des multicouches amorphes bidimensionnelles métal/silicium

par Abdel Rahman Kazoun

Thèse de doctorat en Sciences des matériaux

Sous la direction de Maurice Gerl.

Soutenue en 1990

à Nancy 1 , en partenariat avec Université Henri Poincaré Nancy 1. Faculté des sciences et techniques (autre partenaire) .

mots clés

• Amorphes métalliques
• Conductivité électrique
• Conduction électrique
• Magnétorésistance

Résumé

Cette thèse est consacrée à l'étude des propriétés de transport électronique de multicouches métal/silicium (métal=AU, alliage AU-SI, CU, FE) préparées par évaporation sous ultra-vide et dépôt périodique des constituants sur des substrats à température de l'azote liquide. Une nette structure multicouche a été mise en évidence par différentes techniques. Les couches individuelles sont amorphes et continues dans la gamme d'épaisseurs étudiées : SI: 14-110 A, alliage métallique AU-SI: 20 et 50 A, métaux purs (AU, CU et FE): 7-20 A. Dans cet intervalle, l'épaisseur des couches métalliques a peu d'influence sur les effets d'interférences quantiques. Les multicouches métal/silicium ont un comportement bidimensionnel lorsque l'épaisseur des couches de silicium, E#S#I, est supérieure à environ 40 A, et tridimensionnel lorsque bien que la modulation de structure demeure. La transition 2D3D semble découler du couplage entre couches métalliques à travers les couches de silicium. Pour E#S#I40 A, les résultats obtenus sont en accord avec les théories de la localisation faible bidimensionnelle et des intéractions électron-électron. La cohérence et la complémentarité des résultats de conductivité électrique et de magnéto-résistance ont permis de déterminer les mécanismes de diffusion et les temps correspondants dans les différents systèmes

Titre traduit

Electron localization and interaction effects in two-dimensional amorphous metal/silicon multilayered systems

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