Etude en microscopie electronique en transmission de joints de grains de flexion et de torsion dans le silicium par la methode des franges

par MARCELLINE DEYEME OUEDRAOGO

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de Gérard Nouet.

Soutenue en 1990

à Caen .

mots clés

Résumé

Des joints de flexion et de torsion en orientation de coincidence ont ete etudies par la methode des franges afin de determiner la translation entre les deux cristaux adjacents. La determination du vecteur translation dans la macle 3 211 a permis de confirmer les resultats experimentaux (franges et mehr) et theoriques (calculs energetiques) deja proposes et de montrer que cette translation n'a pas ete sensible au traitement thermique effectue (950#oc-92 h). L'analogie des contrastes observes entre la macle asymetrique 3 511//111 et la macle symetrique 3 211 nous a amene a considerer que dans le joint 3 511//111, des facettes 211 sont a l'origine de la translation. Le joint de torsion 9 observe est facette selon les plans 511 et 410. L'existence d'une translation pour ces facettes a ete mise en evidence en met et la comparaison entre les contrastes observes sur les deux facettes montre qu'elles ont des vecteurs translation differents. La facette 511 est caracterisee par un vecteur translation d'indices 1/67<525>#1//1/20<102>#2, determine a partir du potentiel de keating et en accord avec les profils observes et simules

Titre traduit

Fringe analysis of twist and tilt boundaries in silicon

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