Thèse de doctorat en Électronique
Sous la direction de Jean-Pierre Peyrade.
Soutenue en 1989
à Toulouse, INSA .
La plasticite d'inp non dope, dope soufre et arsenic est etudiee par une nouvelle technique de fluage, le fluage elementaire, dans un domaine de temperature 423-1023 k. La deformation d'inp et inp:s est observee en microscopie electronique in situ; le fonctionnement des sources de dislocations est examine. L'ensemble des resultats est exploite a l'aide des divers modeles de plasticite. La perturbation des proprietes electroniques par les dislocations est mise en evidence par photoluminescence locale
Contribution to the study of dislocations of doped and undoped indium phosphide
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