Réflectivité et diffraction des rayons X appliquées aux films minces organiques

par François Rieutord

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de Marianne Lambert.

Soutenue en 1987

à Paris 11 , en partenariat avec Université de Paris-Sud. Faculté des sciences d'Orsay (Essonne) (autre partenaire) .

Le président du jury était Pierre-Gilles de Gennes.

Le jury était composé de Marianne Lambert, Florin Abelès, Pierre-Gilles de Gennes, Jean-Jacques Benattar, Dominique Langevin.

mots clés

• Réflectivité X
• Rugosités
• Ondes capillaires
• Molécules amphiphiles
• Microscopie électronique sur répliques
• Rayons X -- Diffraction
• Langmuir-Blodgett, Couches de

Résumé

Différentes études par rayon X de films de molécules amphiphiles (monocouche et multicouches de Langmuir-Blodgett) sont ici présentées. On décrit d'abord une méthode d'analyse structurale utilisant trois techniques conjuguées de rayons X: diffraction en transmission et en réflexion, et étude de la réflexion critique. On montre ensuite que l'examen complet d'une courbe de réflectivité aux rayons X permet d'obtenir des informations détaillées non seulement sur la structure mais aussi sur les interfaces de ces films multicouches. Ces données sont complétées par des observations directes des défauts de la surface au moyen de la microscopie électronique sur des répliques. Enfin on étudie la réflectivité d'une monocouche directement à la surface de l'eau, ce qui fournit d'une part son profil suivant la normale et d'autre part la rugosité de l'interface due aux ondes capillaires excitées thermiquement.

Titre traduit

X-ray reflectivity and diffraction applied to thin organic films

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