Uniquement les thèses soutenues
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Determination experimentale de l'ordre local dans le silicium amorphe hydrogene : diffusion des neutrons, exafs au seuil k de silicium
par Alain Menelle
Thèse de doctorat en Physique
Sous la direction de Jean-François Pétroff.
Soutenue en 1987
à Paris 6 .
- Physique
- Etat condense
- Proprietes mecaniques et thermiques
- Ordre courte distance
- Etat amorphe
- Couche mince
- Structure etat amorphe
- Semiconducteur
- Diffusion neutron
- Etude experimentale
- Spectrometrie exafs
- Fonction correlation paire
- Impurete
- Hydrogene|sec
- Non metal
- Pulverisation cathodique
- Substitution ion
- Espece isotopique
- Silicium|sub
- Short range order
- Amorphous state
- Thin film
- Amorphous state structure
- Semiconductor materials
- Neutron scattering
- Experimental study
- Exafs spectrometry
- Pair correlation function
- Impurity
- Hydrogen
- Non metal
- Cathodic sputtering
- Ion substitution
- Isotopic species
- Silicon
mots clés
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Résumé
En vue d'obtenir des informations sur l'importance structurale de h, experiences de diffusion dee neutrons sur des echantillons obrtenus par pulverisation cathodique. Calcul des trois fonctions de correlation de paire si-si, si-h et h-h en utilisant la substitution de h et d. Mesures precises des premiers voisins si par experiences exafs sur des couches minces. Obtention d'informations sur l'orientation relative des tetraedres si
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Titre traduit
Experimental determination of local order in pure and hydrogenated amorphous silicon. Neutron diffraction, exafs at k edge of silicon
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Pas de résumé disponible.
