Mesures cristallographies par rayons X sur monocristaux à applications industrielles

Cristallographic measurements by x rays on monocristals with industrials applications

• Auteur / Autrice : Mohamed Moussetad
• Direction : Henri Mérigoux
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1987
• Etablissement(s) : Besançon

Mots clés

Mots clés contrôlés

Applications industrielles

Monocristaux

Cristallographie

Résumé

Application a l'observation de blocs parallélépipédiques tailles dans des cristaux industriels quelconques des résultats déjà obtenus sur des lames de quartz. Chapitre i: présentation du problème. Chapitre ii: on montre comment l'utilisation de la convention ieee permet de passer de la définition de l'orientation d'une lame a celle d'un bloc et quels sont les calculs conduisant a ce résultat a partir de mesures de diffraction. Chapitre iii: modélisation du spectre de diffraction a partir du faisceau au cours de la mesure. Chapitre iv: illustration des résultats par l'identification des éléments de macles d'un cristal de dolomite