Effets de la topographie de surface induite par impact d'ions lourds sur la spectrometrie d'electrons secondaires resolue angulairement

Heavy ion-induced surface topography effects on secondary angular-resolved electron spectrometry

• Auteur / Autrice : MOSTAFA BANOUNI
• Direction : Nicole Aufan-Benazeth
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences appliquées. Physique
• Date : Soutenance en 1986
• Etablissement(s) : Toulouse 3

Mots clés

Mots clés libres

Sciences appliquees

Physique

Metaux, metallurgie

Etat condense

Proprietes electriques, magnetiques, optiques

Emission electronique

Emission secondaire

Etude experimentale

Surface

Spectrometrie electron

Irradiation ion

Modele theorique

Distribution angulaire

Electron auger

Topographie

Argon ion

Xenon ion

Metal pur al

Electron emission

Secondary emission

Experimental study

Surface

Electron spectrometry

Ion irradiation

Theoretical model

Angular distribution

Auger electron

Topography

Argon ions

Xenon ions

Résumé

Influence de la topographie de surface induite par bombardement ionique sur l'emission electronique secondaire. Presentation des resultats et description de modeles rendant compte des principeles topographiques observees sur differentes cibles d'aluminium bombardees par des ions argon et xenon de 25 kev