Uniquement les thèses soutenues
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Morphologie des distributions de défauts dans GaAs-SI par imagerie infra-rouge numérique
par Fugui Zhang
Thèse de doctorat en Composants, signaux et systèmes
Sous la direction de Jean-Pierre Fillard.
Soutenue en 1986
à Montpellier 2 .
- Semiconducteurs à l'arséniure de gallium
- Traitement d'images -- Techniques numériques
- Rayonnement infrarouge
mots clés
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Résumé
Analyse morphologique des defauts dans des couches semi-isolantes de gaas par utilisation d'un logiciel de traitement d'images
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Titre traduit
Defects distributions morphology in semi-insulating asga by infrared digital imagery
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Pas de résumé disponible.
