Acquisition automatique des modèles quasi-statiques et dynamiques de structures semiconductrices élémentaires par des techniques d'analyses fréquentielles : application aux photodiodes et aux transistors

par Mohammed Wahbi

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de Jacques Boucher.

Soutenue en 1986

à Toulouse, INPT .

mots clés

• Acquisition automatique des données
• Cartographie
• Photodiodes
• Transistors à effet de champ

Résumé

La democratisation des moyens en micro-informatique permet d'envisager de nouvelles methodes de caracterisation, integrant les modeles mathematiques, les dispositifs d'acquisition des mesures et les moyens correspondants de stockage et de traitement numerique, autorisant ainsi une confrontation directe entre la theorie et l'experience. Dans ce memoire, nous presentons un ensemble de methodes, de logiciels, de dispositifs de mesures et, dans un but demonstratif, un certain nombre de resultats experimentaux, degageant ainsi une nouvelle philosophie et un certain nombre d'exemples concrets de caracterisation sur differents composants. La methodologie de caracterisation que nous avons introduite et developpee est basee sur des modeles theoriques et des methodes experimentales adaptees. Le fait d'utiliser un microcalculateur autorise tout d'abord un grand nombre de mesures permettant d'eprouver la fidelite et par la d'ameliorer la precision, un traitement systematique des mesures et une confrontation directe avec le modele theorique, de meme qu'un presentation agreable des resultats

Titre traduit

Automatic acquisition of quasi-static and dynamic models of semiconductor structures by means of frequency analysis : application to photodiodes and transistors

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