Jonathan Colin
IdRefMots clés
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Croissance
Films minces
Nanostructures
Pulvérisation magnétron
Caractérisation in-Situ en temps-Réel
Transitions de phase
Contraintes intrinsèques
Défauts
Résistivité électrique
Interfaces
Siliciures
Multicouches
Propriétés mécanique
Diffraction des rayons X
Surfaces (technologie) -- Analyse
Couches minces
Contraintes (mécanique)
Cristaux métalliques -- Croissance
Pulvérisation cathodique