Kevin Lepinay
IdRefMots clés
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Matériau pour l'électronique
Semiconducteur
Tomographie chimique
Cartographie chimique
MEBT - Microscopie électronique à balayage par transmission
Spectroscopie de rayon X dispersive en énergie
Imagerie 3D
Reconstruction 3D
Préparation de l'échantillon
Faisceau d'ions focalisés
Tomographie en microscopie électronique
composition chimique
Semiconducteurs