28FDSOI  AMDE, Méthode  Analyse de Défaillance  Analyse de défaillance  Analyse de défaillance microélectronique  Analyses de défaillance électrique  Applications industrielles  Architecture MOS  Aviation  Aéronautique  Brouillage électromagnétique  CI analogique et mixte  CMOS 65 nm basse puissance  Caractérisation de défauts  Cartographie en Emission de lumière dynamique  Champs électriques  Charge d'espace  Circuit intégré  Circuits intégrés -- Passivation  Circuits intégrés  Circuits intégrés à très grande échelle  Circuits intégrés à ultra-grande échelle  Compatibilité électromagnétique  Composants tridimensionnels  Composants électroniques  Dose ionisante  Durée de vie  Défaut dynamique  Défauts  Défauts électriques -- Localisation  Détection de défaut  Détection de photons en temps résolu  Détérioration  Effets singuliers  Emission de lumière  Emission par porteurs chauds  Emploi en diagnostic  Faisceaux laser  Fiabilité  Génération de seconde harmonique induite par laser  HEMT AlGaN/GaN  Harmoniques  Impulsions laser ultra-brèves  Induction électromagnétique  Interaction laser photoélectrique/silicium  Interaction laser/Silicium  Intérence champ proche  LVI  Laser photoélectrique  Lasers -- Applications industrielles  Lasers  Localisation de défauts  Localisation de défauts « soft »  Localisation des Défauts  MOS  MOS complémentaires  Mesure de champs électriques dans les circuits intégrés  Micro-électronique  Microscopie  Microscopie Magnétique  Microscopie à émission de lumière dans le domaine visible-proche infrarouge et dans le domaine de l'UV  Microélectronique  Microélectronique digitale  Mobilité  Modélisation et simulations électriques de l’interaction faisceau laser-CI  Méthodologie  Nanoélectronique  Nbti  Nitruration  Nitruration d’oxyde  Nitrure de gallium  Nonlinéaire  Ondes électromagnétiques -- Propagation  Optique  Optique non linéaire  Phénomène photo-thermique et photoélectrique  Piégeage de charge à l’interface Si/SiO2  Porteurs chaud  Porteurs chauds  Potentiel, Théorie du  Robustesse  Semiconducteur  Semiconducteurs  Silicium  Simulation de fautes  Simulation de stress laser thermique  Simulation par ordinateur  Spectroscopie résolue en temps  Squid  Stimulation laser  Stimulation par faisceau laser continu en faible perturbation  Susceptibilité Electromagnetique  TFI  Tddb  Techniques PICA et TRE  Techniques xVM  Technologie  Temps entre défaillances, Analyse des  Test par faisceau Laser pulsé  Thermoréflectance  Transistor Bipolaire  Transistor MOS  Transistors  Transistors MOSFET  Transistors bipolaires  analyse  « Negative Bias Temperature Instability »  Électromigration  Électronique  

Philippe Perdu a rédigé la thèse suivante :


Philippe Perdu a dirigé les 6 thèses suivantes :


Philippe Perdu a été rapporteur des 5 thèses suivantes :

Microélectronique et nanoélectronique
Soutenue le 04-03-2015
Thèse soutenue

Philippe Perdu a été membre de jury des 5 thèses suivantes :