Florian Cacho
IdRefMots clés
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MOS (électronique)
Fiabilité
Moniteur in-Situ
Durée de vie (ingénierie)
Semiconducteurs -- Attaque à l'acide
Siliciures
Simulation par ordinateur
Nucléation
Plaques et coques élastiques
Matériaux -- Propriétés mécaniques
Téchnologie CMOS
BTI.HCI. capteur de vieillissement
Variabilité
Régulation de la tension d'alimentation
Alimentations (électricité)
Bist
Annulation d'harmoniques
Generateur de Stimulus
28nmFDSOI
Adc