Jean-Luc Rouvière
IdRefMots clés
FR |
EN
Microscopie électronique en transmission
Microscopie électronique
Nanofils
Silicium
Holographie
Contraintes
Diffusion
Ségrégation dynamique
Modélisation
Sonde atomique tomographique
Spectrométrie de masse d'ions secondaires
Diffusion (physique)
Ségrégation (métallurgie)
Sondes atomiques tomographiques
Spectrométrie de masse des ions secondaires
Nanodiffraction
Germanium
MET
Croissance cristalline
Champ électrique