Guy Vanderschaeve
IdRefMots clés
FR
Composés semiconducteurs
Dislocations dans les cristaux
Contraintes (mécanique)
Dureté
Matière -- Structure
Séléniures
Microscopie électronique en transmission
Dislocations dans les semiconducteurs
Relaxation des contraintes
Zinc
Microscopes électroniques à transmission
Semiconducteurs -- Défauts
Test de fatigue accélérée
Composants électroniques
Temps entre défaillances, Analyse des
Détection de défaut (ingénierie)
Fiabilité
Microscopie acoustique
Microscopie électronique à balayage et en transmission