Binh Vu Thien
IdRefMots clés
FR
Microscopie électronique
Émission de champ
Silicium
Effet tunnel
Canons à électrons
Nanotubes
Diffraction
Métaux -- Surfaces
Semiconducteurs
Microscopie tunnel à balayage
Trichites métalliques
Cristaux métalliques -- Croissance
Épitaxie par faisceaux moléculaires
Électrons -- Diffraction
États électroniques de surface
Microscopie ionique à émission de champ
Emission électronique
émission champ
Couche mince
échelle nanométrique