Imagerie de phase en rayons X haute résolution pour le contrôle dynamique non destructif de matériaux composites

par Georges Giakoumakis

Projet de thèse en Optique et photonique

Sous la direction de Jérôme Primot.

Thèses en préparation à université Paris-Saclay , dans le cadre de École doctorale Ondes et matière (Orsay, Essonne ; 2015-....) , en partenariat avec ONERA - Département Optique et Techniques Associées (laboratoire) et de Université Paris-Sud (établissement de préparation de la thèse) depuis le 15-11-2018 .


  • Résumé

    L'imagerie par rayons X est fortement développée dans de nombreux domaines de notre société et son utilisation est quotidienne, essentiellement sous la forme de la mesure d'atténuation des rayons X. Si les matériaux denses (métaux …) présentent une forte atténuation amenant du contraste sur l'image, il existe tout un panel de matériaux d'intérêt peu atténuants (composites, fibres de carbone…) difficiles à imager. Ceux-ci peuvent introduire toutefois des variations de phase sensibles. Différents dispositifs d'imagerie de phase ont été proposés, basés entre-autres sur l'utilisation de réseaux d'interférences. Parmi ceux-ci, on trouve l'interféromètre à décalage multilatéral, utilisé maintenant régulièrement pour des applications allant du contrôle optique en passant par la microscopie pour la biologie jusqu'à des applications sur source synchrotron dans le domaine des rayons X.

  • Titre traduit

    High-resolution X-ray phase imaging for dynamic and non-destructive control of composite materials


  • Résumé

    X-ray imaging has been strongly developed in many fields of our society and its use is daily, mainly as an X-ray attenuation measurement. If dense materials (metals ...) present a strong attenuation property leading to an image contrast, there is a whole range of materials with little attenuating interest (composites, carbon fibers ...) difficult to study. These can introduce however sensitive phase variations. Various phase imaging devices have been proposed, based on the use of interference networks. Among these, there is the multilateral shift interferometer, now used regularly for many applications such as optical control, microscopy, biology, or synchrotron applications in the X-ray field.