Cartographie de champs électriques en microscopie électronique en transmission à balayage

par Lucas Bruas

Projet de thèse en Physique de la Matière Condensée et du Rayonnement

Sous la direction de Jean-Luc Rouvière et de David Cooper.

Thèses en préparation à Grenoble Alpes , dans le cadre de École doctorale physique (Grenoble) , en partenariat avec Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (LETI - CEA) (laboratoire) depuis le 05-11-2018 .


  • Résumé

    L'utilisation de nouvelles caméras CCD en TEM est le principal centre d'interet dans la communauté en ce moment. Connue sous le nom de 4D STEM, les cameras sont utilisées pour enregistrer spatiallement toutes les informations sur le faisceau d'électrons transmit, ceci permet d'obtenir des informations sur la structure et les champs simultanément. En temps que developpeur de la "precession diffraction" (Cooper et al. Nano Letter 15,5289, 2015) nous sommes en bonne position pour devenir leader dans le dommaine de la cartographie de déformations. Ce sujet va poursuivre le travail commencé dans le projet ERC Holoview, et notamment améliorer le procédé mais aussi diminuer la taille des jeux de données acquisent et enfin mieux comprendre les limitations qui apparaissent lorsque de vrai échantillons sont testés.

  • Titre traduit

    Mapping of the electric field using transmission electronic microscopy


  • Résumé

    The use of newly available CCD cameras in TEMs is very much the main subject of interest in the community at the moment. Typicaly known as 4D STEM, it uses a camera to spatially record all the information about a transmitted electron beam, to provide information about the structure and fields simultaneously. As the developers of precession diffraction (Cooper et al. Nano Letter 15,5289, 2015) for deformation mapping we are in a strong position to be leaders in this fields. This subject will continue the work started in the ERC Holoview project, to both improve the procedure, reduce the size of data sets that are acquired and to understand better the limitations of the technique when applied to real specimens.