Étude du transfert de couche de graphène et autres matériaux 2D.

par Julien David-Vifflantzeff

Projet de thèse en Nanophysique

Sous la direction de François Rieutord.

Thèses en préparation à Grenoble Alpes , dans le cadre de École doctorale physique (Grenoble) , en partenariat avec Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (LETI - CEA) (laboratoire) depuis le 02-07-2018 .


  • Résumé

    Nous nous proposons d'utiliser nos connaissances uniques en report de couches par collage et procédé Smart-Cut et de les travailler pour permettre le report de graphène et autres matériaux 2D sans dégradation de ces couches ultrafines. Au cours de ce procédé, chaque interface sera analysée et son impact sur les propriétés physiques de la couche graphène ou matériaux 2D sera analysée. On regardera les phénomènes d'oxydation, de diffusion, etc.. L'étude du procédé Smart-Cut sera primordiale dès lors que le substrat d'épitaxie choisi ne permet plus une épitaxie de type Van Der Waals de faible énergie, par exemple graphène sur SiC, épitaxie qui permet l'obtention de taille de grains plus grandes. Le report de telles couches sur des composants sera également étudiée. On visera à valider la qualité des couches reportée par des dispositifs simples.

  • Titre traduit

    Study of graphene layer's transfer and other 2D materials.


  • Résumé

    We suggest using our unique knowledge of layers transfer by sticking and Smart-Cut process and improve them to allow the transfer of graphene and other 2D materials without degradation of these ultrafine layers. During this process, every interface will be analyzed and its impact on the physical properties of the graphene layer or 2D materials will be measured. We shall look at the phenomena of oxidation, diffusion, etc... The study of the Smart-Cut process will be essential since the substrat of epitaxy chosen doesn't allows anymore a epitaxy of low energy van der Waals type , for example graphene on SIC, epitaxy who allows the production of bigger sized grains. The transfer of such layers on components will also be studied. We shall aim at validating the layers's quality measured by simple devices.