Outil de prédictions et durcissement par design pour les SEU et SET

par Ygor Aguiar

Projet de thèse en Électronique

Sous la direction de Frédéric Wrobel et de Jean-Luc Autran.

Thèses en préparation à Montpellier , dans le cadre de École Doctorale Information, Structures, Systèmes (Montpellier ; 2015) , en partenariat avec IES - Institut d'Electronique et des Systèmes (laboratoire) et de Département Systèmes d'Energie, Fiabilité et Radiations (equipe de recherche) depuis le 01-09-2017 .


  • Résumé

    Dans le cadre du projet Européen Marie Curie intitulé RADSAGA, l'équipe RADIAC s'intéressera aux effets des rayonnements ionisants sur les systèmes électroniques en environnement naturel et artificiel. L'objectif principal de cette thèse est de développer une chaine de simulation numérique complète permettant de prédire la sensibilité d'un circuit donné dans un environnement donné (espace, au niveau du sol, accélérateurs etc.). Le travail de durcissement s'abordera en modifiant les paramètres du layout et en quantifiant la variation de la sensibilité. Des circuits comme des chaines d'inverseurs, des additionneurs ou des multiplieurs seront étudiés. Les résultats de ce travail de thèse permettront d'améliorer les capacités de design des circuits.

  • Titre traduit

    Predictive tools and "Radiation Hardening By Design" (RHBD) for SEU and SET in digital circuits


  • Résumé

    Building also upon charge collection mechanisms studied by ESR4 the focus is to develop a so far not existing complete numerical simulation chain in order to predict the reliability of a given CMOS digital circuit in a particular radiation environment representative of a specific application (ground level, space, high energy physics, etc.). Furthermore, a general methodology based on such a numerical simulation chain to harden a device by adjusting, for instance, its layout. The main investigated effects will be Single Event Upset (SEU) in SRAM and Single Event Transient (SET) in typical CMOS circuits such as an inverter chain, adders, multipliers, data-path operators, etc. The study will also provide useful insight for ESR6 and ESR11, as well as a tool to be used by ESR5. More generally, it will improve design capabilities of rad-hard components at an industrial level, significantly reducing the development time and cost.