Approche systématique de l'évaluation de la fiabilité des convertisseurs de puissance DC/DC

par Vahid Samavatian

Projet de thèse en Genie electrique

Sous la direction de Yvan Avenas.

Thèses en préparation à Grenoble Alpes en cotutelle avec l'University of Tehran , dans le cadre de École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble) , en partenariat avec Laboratoire de Génie Electrique (laboratoire) et de Electronique de Puissance (equipe de recherche) depuis le 07-11-2016 .


  • Résumé

    Dans ce sujet de Doctorat, nous voulons proposer une approche systématique de l'évaluation de la fiabilité des convertisseurs électroniques de puissance. Pour cela, nous voulons développer une approche de fiabilité physique (structurelle) niveau système en nous basant sur processus qui peut être un processus de Levy (processus stochastique), un réseau Bayesien ou encore un autre théorème de fiabilité. Cela permettra d'évaluer la fiabilité de manière beaucoup plus précise. Dans cette nouvelle approche, deux défis revêtent une importance primordiale et doivent être abordés : 1- A partir de la physique de la défaillance couplée au profil de mission, comment pouvons-nous modéliser des composants de puissance critiques (MOSFET, IGBT, diodes de puissance et condensateurs) avec un modèle de fiabilité directe (ou stochastique) (T))? 2- Comment résoudre ce modèle temps-fonction de fiabilité? Nous avons appelé cette fiabilité "dynamique" et nous devrions identifier une méthode pour résoudre ce problème (probablement un Bayesien modifié ou un processus de Markov ou ...).

  • Titre traduit

    A Systematic Approach to Reliability Assessment of DC-DC Power Electronic Converters


  • Résumé

    In this Doctorate research, we want to propose a systematic approach to physics-of-failure-based reliability assessment of power electronic converters. We want to develop the physical (structural) reliability to the system level by employing either any of the Levy process (stochastic process) and Bayesian network or other reliability theorem and evaluate reliability much more accurate. In this novel approach two challenges have paramount of importance and should be addressed. 1- Based on the physics-of-failure coupled with the mission profile, how can we model critical power components (MOSFETs, IGBTs, power diodes and capacitors) to the straightforward reliability (or stochastic) model (e.g. time-function failure rate λ(t))? 2- How can we solve this reliability time-function model? We called this dynamic reliability and we should find a method for solving this problem (probably modified Bayesian network or Markov process and …).