Modélisation numérique d'optiques avec traitement multicouches pour la reflexion des rayons X

par Pierre Piault

Projet de thèse en Optique et photonique

Sous la direction de Franck Delmotte et de Claudio Ferrero.

Thèses en préparation à Paris Saclay , dans le cadre de Ondes et Matière , en partenariat avec Laboratoire Charles Fabry (laboratoire) , Optique XUV et surfaces optiques (equipe de recherche) et de Institut d'optique théorique et appliquée (établissement de préparation de la thèse) depuis le 23-03-2015 .


  • Résumé

    La plupart des avancées scientifiques et techniques dépend des progrès en résolution spatiale et sensibilité chimique des techniques de caractérisation développées pour étudier la matière. Avec l'arrivée des sources de rayons X cohérents à haute brillance, les techniques basées sur les rayons X sont particulièrement intéressantes si l'on peut fabriquer des optiques sans défaut, c'est-à-dire capables soit de propager sans dégradation un front onde parfait de la source à l'échantillon, soit de corriger ses imperfections. Parmi les solutions les plus prometteuses on considère l'utilisation de structures multicouches déposées sur la surface d'un miroir. Il s'agit alors, de développer un nouveau modèle pour comprendre l'interaction interférentielle complexe d'un faisceau de rayons X synchrotron avec un empilement multicouches.

  • Titre traduit

    Numerical modelling of reflective multilayer based X-ray optics


  • Résumé

    Most of the scientific and technology progress relies on the development of characterization techniques capable of studying matter at very high spatial resolution and chemical sensitivity. With the advent of highbrightness coherent X-ray sources, techniques based on X-rays are particularly attractive if one can manufacture flawless optics, i.e. optics capable of either propagating a perfect wavefront from the source to the sample without degradation or correcting the wavefront imperfections. Artificially stratified films deposited on a mirror surface are envisaged as a promising candidate to this purpose. So, a new model must be developed to apprehend the complex interferential interaction of a synchrotron X-ray beam with a multilayered medium.