Etude des mécanismes physiques de fiabilité sur transistors Trigate/Nanowire

par Antoine Laurent

Projet de thèse en Nano electronique et nano technologies

Sous la direction de Gérard Ghibaudo.

Thèses en préparation à Grenoble Alpes , dans le cadre de Electronique, Electrotechnique, Automatique, Traitement du Signal (EEATS) , en partenariat avec Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'hyperfréquences et de caractérisation (laboratoire) et de COMPOSANTS CMOS AVANCES SILICIUM ET SOI (equipe de recherche) depuis le 08-04-2014 .


  • Résumé

    L'objectif principal de la thèse est d'étudier en détail la fiabilité des transisotrs 3D vis à vis des mécanismes classiques de dégradation des transistors: BTI, porteurs chauds, claquage.

  • Titre traduit

    Study of the physical mechanisms affecting the reliability of the trigate transistors


  • Résumé

    The main aim of the thesis is to study in detail the reliability of 3D transisotrs overlooked classics degradation mechanisms: BTI transistors, hot carriers, breakdown.