Durcissement de circuits intégrés sécurisés contre l'injection de fautes par impulsions laser courtes

par Clément Champeix

Thèse de doctorat en Microélectronique

Sous la direction de Bruno Robisson.

Thèses en préparation à Lyon , dans le cadre de Ed Sis 488 et de École nationale supérieure des mines (Saint-Etienne) (établissement opérateur d'inscription) depuis le 21-10-2013 .


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