Elaboration et caractérisation de films épais piézoélectriques sérigraphiés sur alumine, silicium, aciers inoxydables et vitrocéramiques
Auteur / Autrice : | Laurence Seveyrat |
Direction : | Paul Gonnard, Laurent Lebrun |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Génie électrique |
Date : | Soutenance en 2002 |
Etablissement(s) : | Lyon, INSA |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : LGEF - Laboratoire de Génie Electrique et Ferroélectricité (Lyon, INSA) |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
Le travail traite de l'élaboration par sérigraphie de couches épaisses de ferroélectriques de quelques dizaines de microns d'épaisseur, et de leur caractérisation diélectrique et piézoélectrique, pour des applications dans les microsystèmes. L'emploi de substrats autres que l'alumine a nécéssité des modifications du procédé, notamment en ce qui concerne la recherche d'éléctrodes et de couches barrières adaptées, et l'abaissement du budget thermique par l'ajout d'aides au frittage. Ainsi sont réalisés des films de titanates de plomb sur vitrocéramiques et aciers inoxydables, avec des propriétés proches de celles des matériaux massifs, et des films PZT 52/48 sur silicium avec de bons coefficients d33(150pC/N) et Kt(0. 45), ce dernier étant estimé à l'aide des équations des modéles à ondes planes. Des différences, entre les films épais et les céramiques massives, et entre les divers types de matériaux, sont mises en évidence et discutées.