Caractérisation par microscopie à champ proche (S. T. M. Et A. F. M. ) de défauts créés par irradiation ionique et étude théorique de la dynamique vibrationnelle en surface sur ce type de défauts

Near-field microscopy characterization (s. T. M. And a. F. M. ) of surface defects induced by switft heavy ions and theory of the vibrational dynamics for a class of two dimensional symmetry breaking surface defects

• Auteur / Autrice : Yan Pennec
• Direction : Antoine Khater
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1994
• Etablissement(s) : Le Mans

Mots clés

Mots clés contrôlés

Défauts

Surfaces (physique)

Bombardement ionique

Résumé

Dans ce travail, nous nous interessons, dans un premier temps, a la visualisation et a la caracterisation par microscopie a effet tunnel (s. T. M. ) et par microscopie a force atomique (a. F. M. ) de defauts crees par irradiation ionique. L'exploitation des resultats conduit a une description en surface et en volume, par clivages successifs, des traces induites par l'irradiation pour deux types de materiaux: le graphite et le mica. Les defauts se presentent sous la forme d'une succession de cylindres de matiere desordonnee repartis aleatoirement le long de la trajectoire de l'ion incident. De nouveaux resultats sont presentes, inaccessibles par les autres methodes microscopiques ou spectroscopiques. La seconde partie est consacree a l'etude theorique de la dynamique vibrationnelle en surface a l'extremite de defauts isoles sur differents types de systemes physiques. Une methode generale est developpee sur un systeme bidimensionnel forme par une chaine lineaire semi-infinie dont les proprietes elastiques different du reste de la structure. Elle est applicable a toute une classe de defauts qui brisent la symetrie selon deux directions de l'espace. Nous pouvons citer le cas de marches, de cretes ou de sillons d'atomes de substitution a la surface des materiaux. Dans ce dernier systeme, deux types de mode sont presentes: un mode de rayleigh elargi et des modes propres localises de type anderson. Nous mettons ainsi en evidence la validite de la methode et son efficacite par la presentation de nouveaux resultats