1T-2R  28FDSOI  3d  Algorithme de routage  Algorithmes  Alimentations  Amplificateur de lecture  Amplificateurs de lecture  Amplificateurs à transistors  Amélioration du rendement  Analyse de circuits intégrés  Analyse de consommation  Analyse de défaillance  Analyses de défaillance électrique  Appariement  Applications industrielles  Apprentissage perceptif  Archiecture  Architecture à triple-Caisson  Attaques par faisceau Laser  Attaques par impulsion de tension  Attaques passives  Attaques physiques  Attaques thermiques  Augmentation de la mobilité des porteurs  Auto-adaptation  Basse consommation  Biocapteurs  Blocs analogique  Bruit d'alimentation  Bruit électronique  CBRAM  CMOS  Capteur biométrique  Capteurs Laser  Capteurs d'images CMOS  Caractérisation  Caractérisation de défauts  Caractérisation électrique  Cardiologie  Cartes à mémoire  Cartes à puce  Cellules logiques  Cellules électrochimiques métalliques  Champ magnétique  Champs magnétiques  Champs électriques  Changement  Charge de calcul  Chevaux de Troie  Chevaux de troie matériels  Circuit  Circuit intégré  Circuits Intégrés  Circuits de compensation  Circuits hybrides MTJ/CMOS  Circuits intégrés -- Simulation par ordinateur  Circuits intégrés  Circuits intégrés numériques -- Conception et construction  Circuits intégrés numériques  Circuits intégrés tridimensionnels  Circuits intégrés à faible consommation  Circuits intégrés à très grande échelle  Circuits intégrés à ultra-grande échelle  Circuits logiques  Circuits logiques/arithmétiques non-Volatiles  Circuits numériques  Circuits transistorisés  Circuits électroniques  Cmos  Cmos.  Communication ultra large bande  Commutation  Composant électronique complexes  Composants électroniques  Conception  Conception analogique  Conception de circuits  Conception de circuits analogiques  Conception pour test & sécurité  Conception sécurisée  Conception à caisson unique  Consommation d'énergie  Consommation dynamique/statique  Contraintes mécaniques  Contre-Mesures  Contre-dopage  Contre-mesures  Contremesures  Contrôle du procédé de fabrication  Corrélation statistique  Couplage magnétique  Criminalité informatique  Criticité de registres  Crossbar  Crosspoint  Current crowding  Cyberterrorisme  DRAM sans capacité  Densité de courant  Densité de pièges  Dispositif memristif  Double grille indépendante  Drain stress  Durcissement superficiel  Défauts  Défauts électriques -- Localisation  Démonstrateur OxRAM  Détection de défaut  Détection de fautes transitoires  EEPROM  Echnologie e-NVM  Effet des radiations  Effet photoélectrique  Effet « hump »  Efficacité énergétique  Electronique organique  Emission de lumière  Emploi en diagnostic  Evaluation de robustesse  Expérimentale  FDSOI  FPGA  Faible consommation  Faible coût  Faisceaux laser  Fautes comportementales  Fautes fonctionnelles  Fd-Soi  Fdsoi  Fiabilité  Fiabilité des mémoires OXRAM  Film mince  FinFET  Flexible  Flot ECO  Flot d'intégration  Flot de conception  Fluctuations électriques  Fuites électromagnétiques  Ge-rich GST  Gestion mémoire  Glaucome  Générateur d'impulsions  Génération de seconde harmonique induite par laser  Génération guidée en courant  Harmoniques  HfO₂. Ta₂O₅  IR-Drop  ISO/SPICE, Modèle  Imagerie infrarouge  Implémentation de sécurité matérielle  Impulsions électromagnétiques  Infrarouge  Injection de fautes  Injection de fautes par Laser  Injection laser  Integration  Interaction laser photoélectrique/silicium  Interaction laser-silicium  Interconnexions  Inversion faible  Laser  Lasers  MOS  MOS complémentaires  Memristors  Microcontrôleurs  Microprocesseurs  Microélectronique  Modèles mathématiques  Modélisation électrique  Mosfet  Mram  Mémoires flash  Mémoires non volatiles  Mémoires non-volatiles à accès sélectif  Mémoires résistives  Méthodologie  Nanotechnologie  Nanoélectronique  Ordinateurs -- Mémoires  Ordinateurs -- Mémoires magnétiques  Ordinateurs -- Mémoires à accès sélectif  OxRRAM  Polarisation face arrière  Protection de l'information  Radiation  Rétro-ingénierie  Semiconducteurs  Simulation par ordinateur  Spintronique  Stimulation laser  Systèmes de sécurité  Systèmes embarqués  Systèmes informatiques -- Mesures de sûreté  Test  Transistors MOSFET  Variabilité  Économies d'énergie  Électronique de spin  

Jean-Michel Portal a rédigé la thèse suivante :

Électronique, optronique et systèmes
Soutenue en 1999
Thèse soutenue


Jean-Michel Portal a dirigé les 13 thèses suivantes :

Mécanique, physique, micro et nanoélectronique
Soutenue le 15-12-2017
Thèse soutenue

Sciences pour l'ingénieur. Micro et nanoélectronique
Soutenue le 15-12-2017
Thèse soutenue

Physique et modélisation des systèmes complexes
Soutenue en 2009
Thèse soutenue

Physique et modélisation des systèmes complexes. Micro et nanoélectronique
Soutenue en 2008
Thèse soutenue

Physique, modélisation et sciences pour l'ingénieur. Phénomènes hors équilibre, micro et nanoélectronique
Soutenue en 2005
Thèse soutenue


Jean-Michel Portal a été président de jury des 7 thèses suivantes :

Nanoélectronique et nanotechnologie
Soutenue le 10-11-2016
Thèse soutenue


Jean-Michel Portal a été rapporteur des 30 thèses suivantes :

SYAM - Systèmes Automatiques et Micro-Électroniques
Soutenue le 18-11-2019
Thèse soutenue
Systèmes automatiques et micro-électroniques
Soutenue le 02-10-2018
Thèse soutenue

Nano electronique et nano technologies
Soutenue le 29-06-2018
Thèse soutenue

Systèmes automatiques et micro-électroniques
Soutenue le 26-10-2017
Thèse soutenue
Systèmes automatiques et micro-électroniques
Soutenue le 05-07-2017
Thèse soutenue

Systèmes automatiques et micro-électroniques
Soutenue le 14-12-2015
Thèse soutenue
SYAM - Systèmes Automatiques et Microélectroniques
Soutenue le 06-12-2013
Thèse soutenue
Systèmes automatiques et microélectronique
Soutenue le 11-10-2013
Thèse soutenue
SYAM - Systèmes Automatiques et Microélectroniques
Soutenue le 09-12-2011
Thèse soutenue

Jean-Michel Portal a été membre de jury des 6 thèses suivantes :

Nanoélectronique et nanotechnologie
Soutenue le 28-11-2014
Thèse soutenue