Caractérisations électro-optiques de couches AlInAs epitaxiées sur InP
Auteur / Autrice : | Eric Bearzi |
Direction : | Gérard Guillot |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Physique de la matière |
Date : | Soutenance en 1996 |
Etablissement(s) : | Lyon, INSA |
Ecole(s) doctorale(s) : | Ecole doctorale Matériaux de Lyon (Villeurbanne1992?-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : LPM - Laboratoire de Physique de la Matière (1961-2007) |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
Le matériau AllnAs, grâce à ses propriétés électriques et optiques; notamment la forte discontinuité de bande de conduction à l'hétérointerface AllnAs/GaInAs, est devenu un matériau clef dans la réalisation de dispositifs optoélectroniques et hyperfréquence à hétérojonction. L'optimisation des performances et des dispositifs passe par la maîtrise de la croissance du matériau et par une connaissance précise des défauts. Nous avons entrepris une étude des propriétés électriques et optiques en fonction des conditions de croissance de l'AlInAs. Le caractère semi-isolant des couches élaborées par épitaxie par jets moléculaires à basse température de croissance à été expliqué. Le piégeage des porteurs s'effectue sur un niveau nommé H2 généré par les défauts étendus présents dans le matériau. Les propriétés optiques ont également été étudiées en fonction des conditions de croissance. Nous avons montré que dans certaines conditions, un super réseau désordonné se forme dans le matériau et influence fortement les mesures.