Métrologie de l'endommagement laser des composants optiques en silice en régime nanoseconde
Auteur / Autrice : | Romain Diaz |
Direction : | Jean-Yves Natoli, Laurent Lamaignère |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Optique, Photonique et Traitement d'Image |
Date : | Soutenance le 17/12/2015 |
Etablissement(s) : | Aix-Marseille |
Ecole(s) doctorale(s) : | Ecole Doctorale Physique et Sciences de la Matière (Marseille) |
Partenaire(s) de recherche : | Centre d'études : Centre d'études scientifiques et techniques d'Aquitaine (Le Barp, France) |
Institut : Institut Fresnel (Marseille, France) | |
Jury : | Président / Présidente : Lionel Canioni |
Examinateurs / Examinatrices : Lionel Canioni, Jean-Luc Miquel, Jean-Michel Di Nicola | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Jean-Philippe Colombier, Patrick Georges |
Mots clés
Résumé
Cette thèse porte sur l'endommagement laser de composants optiques en silice amorphe en régime nanoseconde. Ce matériau diélectrique est l'un des plus couramment utilisés en optique et notamment sur des installations laser de haute énergie telles que le Laser MégaJoule. Afin de garantir le fonctionnement nominal d'une installation, l'endommagement laser des composants optiques doit être compris et maîtrisé. Ce phénomène induit une modification irréversible du matériau modifiant la propagation du faisceau. Dans le régime nanoseconde, l'endommagement laser de la silice est corrélé à la présence de défauts précurseurs qui sont une conséquence de la synthèse et du polissage des composants. L'interaction de ces précurseurs avec le laser va dépendre des caractéristiques de ce dernier. Une première étude est consacrée à la métrologie des impulsions utilisées en laboratoire pour étudier l'endommagement laser. Une seconde étude porte sur les mécanismes d'amorçage des dommages sur la face de sortie des composants optiques faits de silice. Une dernière partie porte sur l'influence de la propagation non linéaire sur l'endommagement surfacique et volumique des composants épais faits de silice.